SCANNING ELECTRON MICROSCOPE (SEM)

SEM是一種電子顯微鏡，透過加熱燈絲使其表面電子跨越能量障礙後形成自由電子，再透過聚焦電子成束掃描樣品表面，藉由偵測二次電子，分析物體的表面形貌。

 

本實驗室之SEM規格:

Source: 六硼化鈰(SmB6)

倍率: 30k up

模式: BSD、SED

載台: 平面 、45度、旋轉

Holder: 低真空、 高真空

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配備耗材:

鍍金機

碳膠帶

銅膠帶

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